涂鍍層測厚儀OXFORD-243E?測量技術：
      一般的測試方法，例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應和渦流方式，由于探頭的" 升離效應" 導致的底材效應，和由于測試件形狀和結構導致的干擾，都無法達到對金屬性鍍層厚度的精確測量。
      牛津儀器將的基于相位的電渦流技術應用到YK-OXFORD-243E,使其達到了±3%以內（對比標準片）的準確度和0.3% 以內的精確度。
      牛津儀器對電渦流技術的*應用，將底材效應zui小化，使得測量精準且不受零件的幾何形狀影響。
      另外，儀器一般不需要在鐵質底材上進行校準
 
涂鍍層測厚儀YK-OXFORD-243E優勢：
1、采用基于相位的電渦流技術，集測量精確、價格合理、質量可靠的優勢于一體的手持式測厚儀。
2、專為金屬表面處理者設計。配置的單探頭可測量，鐵質底上所有金屬鍍層-即使在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進行測量。
3、易于用戶控制，并且可以同X線熒光測儀的準確性和精密性媲美。
4、為了讓客戶能以低成本購買OXFORD-243E免去了對多探頭、操作培訓和持續保養的需要。
 
 
 
涂鍍層測厚儀OXFORD-243E技術參數
技術參數及功能：
  準確度：相對標準片±3%
  精確度：0.3%
  分辨率：0.1μm
  電渦流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499,及ASTM E376
存儲量：26,500 條存儲讀數
  尺寸：14.9 x 7.94 x 3.02 cm
  重量：0.26 kg 包括電池
  單位：英制和公制的自動轉換
  接口：RS-232串行接口，波特率可調，用于下載至打印機或計算機
  顯示屏：三位數LCD液晶顯示
  電池：9伏堿性電池，65小時連續使用
*的ECP-M探頭
        ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設計，此單探頭可以測量
鐵質底材上幾乎所有金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探
針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。
 
測量范圍：
鐵上鍍層    鍍層厚度范圍     探頭
Zn            0–38μm       ECP-M
Cd            0–38μm       ECP-M
Cr            0–38μm      ECP-M
Cu            0–10μm      ECP-M
 
ECP-M探頭規格(mm)
zui小凸面半徑  1.143 
zui小凹面半徑  1.524
測量高度      101.6 
zui小測量直徑  2.286
底材zui小      304.8
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